日本KETT雙功能膜厚計
LZ-373
產品說明
日本KETT LZ-373雙功能膜厚計，具備獨立式探測頭，可以用來測定磁性體及非磁性金屬物上的被膜厚度量測。LZ-373雙功能膜厚計包含了電磁膜厚計LE-373及渦電流膜厚計LH-373的所有功能，可針對多樣的素材、多樣的被膜量測，例如：鋅、硬鉻、化學鎳、塗裝、烤漆、電著、陽極處理、皮膜處理、鐵氟龍、砝瑯、達可锈、各種非金屬被膜等，為最適合於現場使用的膜厚測定儀。
LZ-373雙功能膜厚計是電子產業最信賴的膜厚計，無論是陽極處理、各種零件的表面處理都可提供非常良好的測量結果。
LZ-373雙功能膜厚計是電子產業最信賴的膜厚計，無論是陽極處理、各種零件的表面處理都可提供非常良好的測量結果。
| 型號 | LZ-373 |
| 測定方式 | 電磁誘導／渦電流式兩用 |
| 測定對象 | 磁性體上的非磁性被膜及非磁性金屬上的絕緣被膜 |
| 測定範圍 | 電磁誘導式：0~2500um或99.0mils 渦電流式：0~1200um或47.0mils |
| 測定精度 | 50um以下：±1um；50um以上1000um以下：±2% 1000um以上：±3% |
| 最小解析 | 100um以下：0.1um；100um以上：1um |
| 符合規範 | 電磁誘導式：JIS K5600-1-7、JIS H0401、ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840、BS 3900-C5 ASTM B499、ASTM D7091-5、ASTM E376 渦電流式：JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501、ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840、BS 3900-C5、ASTM D7091-5、ASTM E376 |
| 記憶容量 | 約39,000點 |
| 檢量曲線 | 具100條檢量曲線記憶容量（電磁誘導式50條；渦電流式50條） |
| 測頭型式 | 一點接觸定壓式（LEP-J、LHP-J） |
| 顯示方式 | 具背光式LCD數值顯示，最小解析0.1um |
| 外部輸出 | 個人電腦(USB & RS-232C) |
| 使用電源 | 單3鹼性電池x4只 |
| 消費電力 | 80mW(背光關閉時) |
| 電池壽命 | 約100小時(背光關閉、連續使用) |
| 操作溫度 | 0~40℃ |
| 附加機能 | 檢量曲線選擇、基體校零、資料刪除、資料記憶、上下限設定、統計計算、選擇顯示、日期時間、自動關閉時間、背光亮度、背光時間、單位切換、資料輸出、自動批號、測定方式、維修模式 |
| 尺寸重量 | 75(W)x145(D)x31(H)mm、0.34kg |
| 標準附件 | 校正標準片x6片、標準片盒子、鐵素材、鋁素材、曲面固定器、攜帶皮套組、鹼性電池x4只 |
| 選購配件 | 校正標準片、LW-990測定台、電腦傳輸線、RS-232C & USB轉換線、LDL-03資料管理軟體 |
