• IR顯微鏡 1

IR顯微鏡

功能特點說明:
●
 		 檢測功能：利用特殊光學可穿透矽晶圓並可完整呈現,防止不良的發生
●
 
 		 適合半導體業界檢測使用,如si interposer、TSV、Bumping、Flip chip、FC-CSP、FC-BGA、MEMS、WLC-SP、封裝後成品等等。
●
 		 F光學設計IR光源採用2種波長1.波長900~1100nm、2.波長900~1700nm
● YAG  Leaser1064/532/355/266nm使用
● 檢測速度：0.1秒
●
 		 IR CCD有2種可選擇,1.波長900~1100nm、2.波長900~1700nm
● 檢測速度：0.1秒
   
 
功能特點說明:
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 		 檢測功能：利用特殊光學可穿透矽晶圓並可完整呈現,防止不良的發生
●
 
 		 適合半導體業界檢測使用,如si interposer、TSV、Bumping、Flip chip、FC-CSP、FC-BGA、MEMS、WLC-SP、封裝後成品等等。
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 		 F光學設計IR光源採用2種波長1.波長900~1100nm、2.波長900~1700nm
● YAG  Leaser1064/532/355/266nm使用
● 檢測速度：0.1秒
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 		 IR CCD有2種可選擇,1.波長900~1100nm、2.波長900~1700nm
● 檢測速度：0.1秒
   
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